2026年4月14日，中国科学院2026年“国际交流计划”访问学者获得者，日本筑波国立材料科学研究所名誉研究员，筑波大学名誉教授樱井健次访问中国科学院上海高等研究院（以下简称“上海高研院”），并作题为“利用X射线荧光光谱与成像进行元素分析”的主题报告。上海高研院副院长邰仁忠、国际合作处处长刘建周出席，上海高研院师生代表参加了活动。

邰仁忠欢迎樱井健次教授来访，感谢其在推动中日双方科研交流合作做出的贡献，并向樱井健次颁发中国科学院国际访问学者证书。

在讲座中，樱井健次系统介绍了X射线荧光分析的历史背景、物理原理、仪器设备及多样化的科学应用，并对其未来发展进行了展望。重点讲述了X射线荧光分析基于先进同步辐射光源的应用，涵盖X射线光谱学、X射线成像及X射线表面散射。樱井健次教授同时回顾了作为访问学者在中国的交流经历，特别提到与上海高研院在联合研究方面的合作潜力，并表示期待双方进一步加强合作。

讲座结束后，现场听众与樱井健次教授就X射线荧光分析基于同步辐射光源的应用等问题进行了深入交流。