2013年10月11日，中国科学院上海高等研究院（简称“上海高研院”）与安捷伦科技有限公司（简称“安捷伦”）在上海高研院联合举办了每年一度的“安捷伦-高研院联合实验室技术交流研讨会”。此次会议为联合实验室成立以来的第三届会议，上海高研院微纳器件研究中心主任张钊锋主持会议。 

上海高研院科技发展部副部长杜翀和安捷伦华东区销售总经理张敏华分别代表上海高研院和安捷伦进行了致词，充分肯定了安捷伦卓越的技术支持工作，并对联合实验室作为双方的合作平台提出了殷切的期望。 

本次技术交流研讨会的主要内容包括先进电子技术的发展动态及解决问题的方法和资源、宽带无线通信技术应用及测试解决方案、实时信号分析仪：技术工程师分析和解决问题的利器、针对RFID应用的系统测试解决方案、高速数字信号处理测试方案。 

通过本次研讨会，使科研人员和实验室管理人员了解到电子测量技术的最新动态，对先进的测试设备有了更深入的理解和掌握，有利于科研工作的顺利开展及实验室测试设备的最大效能发挥，从而促进了学科的进一步技术创新。