刘海岗，中国科学院上海高等研究院，副研究员。2013年博士毕业于中国科学院大学。2013年进入中国科学院上海应用物理研究所-上海同步辐射光源工作。2018年进入中国科学院上海高等研究院工作。

1. X射线层叠相干衍射成像技术；
2. EUV掩模缺陷检测技术研究；
3. X射线自由电子激光丢束诊断；

2020年，荣获中国科学院上海高等研究院优秀员工荣誉称号；
2024年，入选中国科学院特聘骨干岗位（技术攻坚型）

1.国家重点研发计划，”高通量 X 射线自由电子激光活细胞单脉冲成像技术体系“，子课题负责人，2022年12月-2027年11月；
2.国家自然科学基金委员会面上项目,”纳米分辨的多功能软X射线扫描相干衍射成像技术研究 “，项目负责人， 2022年1月-2025年12月；
3.国家自然科学基金委员会, 联合基金项目，”新型极性金属薄膜的共振X射线谱学研究“，子课题负责人，2021年1月-2023年12月；

1.文章
[1] Chi Zhang; Haigang Liu; Chunpeng Wang; Zhi Guo; Xiangzhi Zhang; Zijian Xu; Xiangjun Zhen;Yong Wang; Renzhong Tai ; Automatic Feedback System for X-ray Flux at BL08U1A Soft X-ray Spectromicroscopy Beamline of Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Appled Sciences, 2023, 13:5456 (期刊论文) ( 本人标注: 共同通讯作者 )
[2] Ning JingYuan; Zhu XiaoDong; Liu HaiGang; Yu GuangHui ; Coupling thermophilic composting ａｎｄ vermicomposting processes to remove Cr from biogas residues ａｎｄ produce high value-added biofertilizers, Bioresource Technology, 2021, 329: 124869 (期刊论文) ( 本人标注: 共同第一作 者 )
[3] Wang, Jianyin; Liu, Haigang; Yang, Qi; Hu, Bei; Geng, Fushan; Zhao, Chong; Lin, Yang; Hu, Bingwen ; Cu-Doped P2-Na0.7Mn0.9Cu0.1O2 Sodium-Ion Battery Cathode with Enhanced Electrochemical Performance: Insight from Water Sensitivity ａｎｄ Surface Mn(II) Formation Studies, ACS Applied Materials & Interfaces, 2020, 12(31): 34848-34857 (期刊论文) ( 本人标注: 共同第一作者 )
[4] Liu Haigang; Cao Jiefeng; Wang Yong; Chen Zhenhua; Yu Huaina; Zhang Lijuan; Xu Zijian; Guo Zhi; Zhang Xiangzhi; Zhen Xiangjun; Zou Ying; Tai Renzhong ; Soft x-ray spectroscopic endstation at beamline 08U1A of Shanghai Synchrotron Radiation Facility, Review of Scientific Instruments, 2019, 90(4): 0-043103 (期刊论文) ( 本人标注: 唯一第一作者 )
[5] Liu Haigang; Xu Zijian; Wang Chunpeng; Tao Xulei; Wang Yong; Tai Renzhong ; Soft X-ray Spectro-Ptychography for Air Pollution Particulates, Microscopy ａｎｄ Microanalysis, 2018, 24(S2): 46-47 (期刊论文) ( 本人标注: 唯一第一作者 )
3.发明专利
[1] 刘海岗; 张祥志; 郭智; 许子健; 王勇; 邰仁忠 ; 一种光束线站的自动反馈调光系统及方法, 2023-08-22, 中国, CN202310745734.1 (专利)
[2] 刘海岗; 张祥志; 郭智; 许子健; 王勇; 邰仁忠 ; 一种自动采集吸收谱实验数据的控制方法, 2023-04-28, 中国, CN202011557536.5 (专利)